我們能為您提供什么服務(wù)？

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  晶體匹配測(cè)試

  在實(shí)際電路板上，對(duì)晶振的起振特性、頻率精度、驅(qū)動(dòng)電平、波形質(zhì)量等進(jìn)行全參數(shù)測(cè)試與驗(yàn)證，推薦最合適的電路匹配和晶體。

  
  

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  晶振不良分析

  對(duì)應(yīng)用中出現(xiàn)的失效樣品（如停振、頻偏過大、常溫不工作等）進(jìn)行專業(yè)的電氣測(cè)試、開封內(nèi)部檢查及根因診斷。

  
  

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  樣品可靠性測(cè)試

  模擬產(chǎn)品生命周期及惡劣環(huán)境，進(jìn)行高低溫循環(huán)、高溫高濕、長(zhǎng)時(shí)間老化、振動(dòng)沖擊等針對(duì)性測(cè)試。加速反應(yīng)產(chǎn)品在使用環(huán)境中的狀況，來驗(yàn)證其是否達(dá)到預(yù)期質(zhì)量目標(biāo)。